您的位置： 首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 原子力顯微鏡 > AFM原子力顯微鏡 > 便攜式原子力顯微鏡

便攜式原子力顯微鏡

簡(jiǎn)要描述：便攜式原子力顯微鏡可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)（納米級(jí)別）；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-01-17
訪問(wèn) 量：5837

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品目錄

PRODUCT CENTER

原子力顯微鏡

AFM原子力顯微鏡查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	儀器種類(lèi)	原子力顯微鏡
價(jià)格區(qū)間	面議	產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥/生物制藥

便攜式原子力顯微鏡工作模式：

1.標(biāo)準(zhǔn)工作模式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式(Contact mode)

1.3相位成像模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測(cè)試（Force curve）可測(cè)楊氏模量

1.6納米操控（Nanomanipulation）

1.7納米刻蝕（Nanolithography）

1.8力矩陣模式（Force Mapping）

1.9摩擦力測(cè)試（Friction Mode）

2. 可選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導(dǎo)電顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式（Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuān)門(mén)從事設(shè)計(jì)和制造原子力顯微鏡的專(zhuān)業(yè)化公司。公司創(chuàng)始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗(yàn)的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

便攜式原子力顯微技術(shù)參數(shù)

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍：17 μm，7 μm

XY方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.01 nm

Z方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.003 nm

Z方向測(cè)量噪音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm